比表面及孔隙率（总孔体积）测定仪提高测试措施

　　1）采用与同类进口产品相同品牌的高硅薄膜压力传感器，压力测量为相应读数的0.15％，远远优于0.15％的全量程（FS）传感器；

　　2）与国外同类产品类似，采用0－1000Torr压力传感器测量压力，大大降低了测量误差，硅薄膜压力传感器远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计（一般误差为10%-15％）；

　　3）的一体化集装式管路系统，采用进口集装管路，显著减少管路连接点，大大减少死体积空间，有利于降低测量误差；

　　4）的步进式液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，彻底消除因死体积变化引入的测量误差；

　　5）独特设计的抽气及进气控制系统，有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅，确保测试气路的清洁和样品质量无损失，保护高压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移；

　　比表面及孔隙率（总孔体积）测定仪V-Sorb 2800是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器，采用静态容量法测试原理，众多科研院所及500强企业应用，相比国内同类产品，金埃谱比表面及孔隙率（总孔体积）测定仪多项技术的采用使产品整体性能更加完善，金埃谱比表面及孔隙率（总孔体积）测定仪测试结果的准确性和一致性进一步提高，金埃谱比比表面及孔隙率（总孔体积）测定仪测试过程的稳定性更强，金埃谱比表面及孔隙率（总孔体积）测定仪达到国际同类产品先进水平，部分功能超越国外产品。

　　金埃谱科技是国内早参与比表面积标准物质标定的机构，测试结果与国外数据可比性平行性，并获取权威机构的检测证书，同时金埃谱科技也是国内同行业中现金注册资本规模，通过ISO9001质量的生产型企业，雄厚实力和完善的质量及服务体系，让您选购的产品无后顾之忧！

　　全自动比表面及孔隙率（总孔体积）测定仪性能参数

　　测试方法及功能：氮吸附静态容量法，吸附及脱附等温线测定，BJH总孔体积及孔径分布分析，样品真密度测定，t-plot图法微孔分析，MP法微孔分析，BET法比表面积测定（单点及多点），Langmuir法比表面积测定，平均粒径估算，t－plot图法外比表面积测定；

　　测试模式：V-Sorb的集成“单一氮气测试模式”和“氮气＋氦气标准测试模式”于一体，供客户根据实际需要选择使用；采用“氮气＋氦气标准测试模式”，符合国际标准，可确保结果的准确性和一致性，且操作简单；对于低温下可吸附氦气的样品，不适宜采用氦气测定自由空间，可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果。

　　测定范围：0.01（㎡/g）--至无上限（比表面积），0.35nm-400nm（孔径）；

　　测量：重复性误差小于1.5%

　　真空系统：V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统，大大减小管路死体积空间，提高检测吸附气体微量变化的灵敏度，从而提高孔径分析的分辨率；同时集装式管路减少了连接点，大大提高密封性和仪器使用寿命

　　液位控制：V-Sorb的液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，彻底消除因死体积变化引入的测量误差

　　控制系统：采用可编程控制器电磁阀控制系统，高集成度和抗干扰能力，提高仪器稳定性和使用寿命

　　样品数量：同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理，样品测试系统和样品处理系统必需相互独立，并且样品测试和样品脱气处理必需可以同时进行，避免了测试管路受到污染，从而进一步确保测试的和提高仪器使用寿命

　　压力测量：采用原装进口压力传感器测量压力，显著提高 P/Po点的测试，0-1000Torr（0-133Kpa），必须提供进口检测证书；

　　压力：进口硅薄膜压力传感器，达实际读数的0.15％，优于全量程的0.15％，远高于皮拉尼电阻真空计（一般误差为10%-15％）

　　真空泵：真空泵内置仪器中，且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停，从而延长真空泵的寿命。