X2晶体用氧化铝杂质含量测试仪
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传 真:86 10 60546837

适合对晶体用氧化铝进行杂质元素和纯度分析

超高灵敏度的元素分析仪器
能进行无人控制操作
具有痕量检测能力
体积小巧、功能全面
可迅速获取同位信息,进行半定量分析
快的全谱同时测量能力和强大的抗干扰能力
分辨率与灵敏度的配置,优异的稳定性以及无与伦比的同位素丰度比值测量精密度
每一个样品中需要测量的元素数量多少均不影响样品分析的整体速度
线性动态范围:108
电源:100240V(±10%)50/60HZ300VA