X荧光光谱仪

型号：EDX4500H 

EDX 4500H X荧光光谱仪是继EDX1800B和EDX3600H之后更先进的增强型光谱仪，利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，更高。

在合金检测中效果更好SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型号：EDX 4500

产品名称：X荧光光谱仪

测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）

元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）

同时分析元素：性可测几十种元素

分析：0.05% （含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性）

测量时间：30秒-200秒

探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA

测量对象状态：粉末、固体、

液体输入电压：AC 110V/220V

环境温度：15℃-30℃

环境湿度：35%-70%

样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

标准配置

高效超薄窗X光管SDD硅漂移探测器数字多道技术信噪比增强器 

SNE光路增强系统高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）