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分立器件

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分立器件综合老化系统

★符合标准：MIL-STD-750D、GJB128等试验标准。

★适用范围：适用于各种封装形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等等元器件的稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。

★技术特点：

●适用范围广，可满足多种分立元器件的常温寿命老化。

●具有手动、自动加电模式。

★技术性能

产品型号	OPL–64B16C	OPL–64B08C
产品名称	分立器件综合老化系统
试验腔体	2∽8个，水平风道，强迫风冷，风机转速可调	1∽4个，水平风道，强迫风冷，风机转速可调
试验通道	16个	8个
试验容量	64×16=1024位	64×16=512位
电源	8∽16台15V/40V/60V/100V/150V/200V等规格	4∽8台15V/40V/60V/100V/150V/200V等规格
驱动检测板	16块	8块
温度检测	系统检测记录试验腔体的温度，可生成温度变化曲线，并具有超温保护功能。
上位机	工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。
基本功能	◆试验电流、电压参数上限设定、老化时间设定。 ◆实时监测显示老化参数（I、V、Ta）及老化时间、老化进度。 ◆实时记录保存老化参数（I、V、Ta）。 ◆实时判断是否超限，超限报警并记录超限工位及超间。 ◆老化参数方便调用、可生成试验报表、可绘制相关变化曲线。
电网要求	单相AC220V，6KW	单相AC220V，3KW
外形尺寸	WхHхD：140х188х126（cm）	WхHхD：105х188х112（cm）
重量	约500kg	约300kg