CISC RFID Xplorer是一个UHF RFID性能测试产品，它的研发是为了能简单运用标签频率的灵敏度，通信范围和后向散射功率的测量以及测试UHF RFID 读写器。设备能在500MHz－1.3GHz频率范围内任意操作。在性能测试方面，测量速率可低至1s/频率。在读写器性能和一致性测试方面，可在没有记录时间限制时实时进行信号记录。

CISC 半导体在标准化组织ISO/IEC和GS1 EPCglobel有着地位，以它10多年RFID测试经验可确保所测试的结果就是行业中新的标准数据，并且能保证消费者可便捷的使用可靠的产品。

CISC FRID Xplorer的体积只有160*205*50mm，是市场上小的且的测量工具，它具有高灵活性，运输简便。只需要几分钟就能拆解和设置装置，不仅节约时间，而且能保证用户可妥善处理。

设备拥有着性价比高的版本配置，可在露天环境下测试，作为高的测试仪器，在RF受控环境中使用一个试验箱。测试设备由一个图形用户界面(GUI)控制。此外，应用程序界面（API）在标准发展环境中是可用于用户自定义测试序列的发展的（e.g.C/C++,Labview）。CISC RFID Xplorer 可用于测量独立标签的性能和运用于产品的标签的性能。

2.1 综述

度高

使用简便

标签测试和读写器测试

完全自动化

自动校准

控制使用GUI或API功能

2.2标签性能测试

传递标签的主要特征

－读取范围及其频率

－后向散射及其频率

－标签激活电场及其频率

－标签激活功率及其频率

－标签后向散射功率及其频率

－三角雷达横切面及其频率

－角灵敏度－标签辐射码型测量

访问标签测试

－读写内存测试

－支持用户自定义命令，包括密码套件

多个标签的分析

－库存的所有标签

－分析选出来的标签总数

－对比多个标签的性能

2.3 读写器测试

－用监听模式分析读写器和标签二者之间的通信

－读写器与标签通信的实时记录

  记录带宽可达到50MHz

  频谱分析

  数据内容分析

－自动检测读写器的指令和标签响应

－读写器天线辐射码型测量