瑞典XCounter 双能探测器
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地区：辽宁省 大连市
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手 机：13504113728
传 真：010-58043776
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图文详情
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产品属性
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瑞典XCounter 双能探测器、
光子计数 直接转换 能量分辨
?XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料
?直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率
?可获得更小细节的清晰图像
?动态范围大，这对于获取整幅图像非常重要
?光子计数，具有更高的灵敏度，可在非常低的剂量下工作
?采用双能曝光，具有区分材料的能力
双能
? XCounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料
? X射线获取，可记录两种不同能量的X射线吸收剂量
? 利用不同组织和骨骼的吸收剂量的不同的特点，可以从图像
中把它们区分出来
? 使得XCounter在医疗和工业领域独具特色
? 独特的卖点
独特的传感器
? FLITE
? 0.75mm / 1mm CdTe 225kV
? 成像面积 150mm x 25.6mm, 12.8mm, 或 6.4mm
? 拼接的探测器
? 100 um 像素
? TDS快速扫描
? 模块设计，电子器件可再生利用，重组变成一个新的产品，
同样的板子可适用于不同宽度
? 板子和板子之间的通讯允许链接
? 可对接的，以形成一个区域探测器
? 单一的开发库
基础材料
? 一块PCB板，适用于
所有的探测器
? 传感器阵列和PCB之
间灵活连接，可以有
不同的形式（未展示）
串联拼接探测器
? 串联拼接，形成更长的线阵探测器
? 长至1m
产品描述
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE FX系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
XC-FLITE FX系列，通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
基本参数
物理参数 | ||
尺寸 （L×W×H） | XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm | |
温度控制 | 内部的珀尔帖效应温度控制 | |
环境温度 | +10 - +40℃ | |
储藏温度 | -10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度 | |
射线窗 | 碳纤维， 厚500μm | |
射线屏蔽 | 根据应用 | |
传感器 | ||
传感器数量 | FX1：1 FX2：2 FX3：3 | |
传感器类型 | 双能光子计数 CdTe-CMOS | |
传感器厚度 | 0.75mm-2.0mm CdTe | |
有效面积 | FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素) | |
像素 | 100μm | |
像素填充率 | 100% | |
性能 | ||
帧率 | 1000 fps（也可选择时间延迟求和模式） | |
动态范围 | 12 bits | |
图像面元 | 1×1，2×2，4×4 | |
成像时间 | 100μs-5s | |
DQE（0） | 85%@RQA5 spectra | |
MTF | ＞80% @ 2lp/mm | |
管KV范围 | 15-250kVp | |
内部测试图样 | Pseudo-random debug pattern | |
外部触发输出 | 3.3V TTL | |
输入 | 5V | |
滞后 | 0% | |
拖影 | ＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy） |
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off） 
产品描述：PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。
PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE先进之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测（NDT）
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数
物理参数 | ||
尺寸 （L×W×H） | 94×54×20mm | |
重量 | 150g（235g 带钨防护） | |
温度控制 | 内部的珀尔帖效应温度控制 | |
环境温度 | +15 - +45℃ | |
储藏温度 | -10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度 | |
消耗功率 | 10W | |
射线窗 | 碳纤维， 厚250μm | |
射线屏蔽 | 根据应用 | |
传感器 | ||
传感器类型 | 双能光子计数 CdTe-CMOS | |
传感器厚度 | 0.75mm-2.0mm CdTe | |
有效面积 | 25.6×25.6 mm2 | |
像素 | 100μm | |
像素填充率 | 100% | |
性能 | ||
帧率 | 35fps | |
动态范围 | 12 bits | |
成像时间 | 100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间） | |
DQE（0） | 85%@RQA5 spectra | |
MTF | ＞80% @ 2lp/mm | |
管KV范围 | 15-140 kVp | |
内部测试图样 | Pseudo-random debug pattern | |
外部触发输出 | 3-3 V TTL | |
输入 | 3-15V | |
滞后 | 0% | |
拖影 | ＜0.1% X射线开启后1分钟（12μGy） |
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）
产品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度90mm/s。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。
集成
XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*扫描速度90mm/s
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数单
基本参数
物理参数 | ||
尺寸 （L×W×H） | XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm | |
温度控制 | 内部的珀尔帖效应温度控制 | |
环境温度 | +10 - +40℃ | |
储藏温度 | -10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度 | |
射线窗 | 碳纤维， 厚500μm | |
射线屏蔽 | 根据应用 | |
传感器 | ||
传感器数量 | X1：1 X2：2 X3：3 | |
传感器类型 | 双能光子计数 CdTe-CMOS | |
传感器厚度 | 0.75mm-2.0mm CdTe | |
有效面积 | X1：154.7×12.8mm(1536×128像素) | |
像素 | 100μm | |
像素填充率 | 100% | |
性能 | ||
扫描速度 | X1：90 mm/s X2 & X3：255 mm/s | |
帧率 | 1000 fps （也可选择时间延迟总和模式） | |
动态范围 | 12 bits | |
图像面元 | 1×1，2×2， 4×4 | |
成像时间 | 100μs-5s | |
DQE（0） | 85%@RQA5 spectra | |
MTF | ＞80% @ 2lp/mm | |
管KV范围 | 15-250kVp | |
内部测试图样 | Pseudo-random debug pattern | |
外部触发输出 | 3.3V TTL | |
输入 | 5V | |
滞后 | 0% | |
拖影 | ＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy） | |
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）