镀层膜厚分析仪,一件代发
价格:电议
地区:
电 话:86 574 88397517
传 真:86 574 88397517
产品介绍:    Ux-720新一代国产镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量和测量结果业界。    采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。    Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。    X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。    Ux-720镀层测厚仪采用了华唯新技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。    样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。    设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。    软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录同时自动添加测试人的登录名称。 产品指标:测厚技术:X射线荧光测厚技术测试样品种类:金属镀层,合金镀层测量下限:0.003um测量上限:30-50um(以材料元素判定)测量层数:10层测量用时:30-120秒探测器类型:Si-PIN电制冷   探测器分辨率:145eV高压范围:0-50Kv,50WX光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;光管靶材:Mo靶;滤光片:专用3种自动切换;CCD观察:260万像素微移动范围:XY15mm输入电压:AC220V,50/60Hz测试环境:非真空条件数据通讯:USB2.0模式准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm软件方法:FlexFP-Mult工作区:开放工作区 自定义样品腔:330×360×100mm 标准配件样品固定支架1支窗口支撑薄膜:100张保险管:3支计算机主机:品牌+双核显示屏:19吋液晶打印机:喷墨打印机 可选配件可升级为SDD探测器     可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试自动弹出,供应商信息自动筛选和保存