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供应插损/回损测试仪
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插损/回损测试仪




产品概述

AS-B330i插损/回损测试仪广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试。

独特的损耗告警设置，不同颜色显示，大大提升测试效率

光源与功率计模块波长联动，减少操作步骤

光源接头可拆卸设计，便于清洁

多种测试接口配置

性能指标

光回波损耗测试

工作波长

1310/1550nm

测试范围

0 ~ 75 dB

校准波长

1310/1550nm 

测试

0.25dB

输出稳定性 

0.05dB/小时 ( @ 25℃)

接口类型

FC/APC

光插入损耗测试

校准波长

850/1310/1550nm 

测试范围

+3 ~ -80 dBm 

测试

0.25dB

显示分辨率 

对数：0.001dB；线性：0.001nw/μW/mW 

测试模式

线形和非线性 

接口类型

活动接口， FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器 

总指标

电源

AC 100-240V

工作温度

-5℃～+55℃ 

外观尺寸

260×265×140mm

重量 

3kg