◆ 产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13mm 长度≤14mm）；
◆ 产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，把频率衰减降到，
   减少误测；
◆ 有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高自适应弹簧保证每个IC平衡下压；
◆ 采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；
◆ 采用台湾厂家生产的内存颗粒测试专用PCB，金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的10倍，保证测试治具有更好
   的导通和耐磨性,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命；
◆ 采用带定位孔内存颗粒测试专用PCB，探针板与PCB孔定位，保证探针与PCB定位，如有损坏用户可自行更换
   维修 ,
   简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间；
◆ 采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，
   DDR3系列频率可达2000MHZ；
◆ 探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便维护，为生产争取宝贵
   时间；
◆ 高合金IC定位框，保证IC定位，取放IC方便，从而提高测试效率；     
◆ 测试寿命长，有效测试10万次以上；（视使用环境及相关操作而定）；五金件终身保修;
◆ 内存颗粒测试治具测试规格：DDR2X8  DDR3X8性可测试8/16颗内存颗粒；
◆ 可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具;
◆ 可以提供相关的技术支持。