西安雷凯光电专注于对光束质量的检测研究，针对于不同波长，采用高精微透镜和不同的CCD传感器，开发出不同型号的哈特曼波前分析仪。

哈特曼波前测量技术是由科学家哈特曼于1900年，首次提出的，R.K.Shak对经典哈特曼光阑做了改进，根据其原理设计的波前传感器被称为，Shack-Hartmann波前传感器。

针对于不同的应用特征，我们开发出一款适用性比较广的哈特曼波前分析仪，与国际上同类产品相比，可达到同等数量级。我们可以针对不同的波长，在可见光和近红外波段，可以为您量身打造您合适用的波前分析仪。

该款波前分析仪具有小巧灵活，能够提供目前波前分析领域的分辨率和良好的动态范围。我们自行研发的配套软件可2D，3D显示，能迅速的从波前相机采集数据，进行测量，分析。

特点：

微透镜阵列：50×50；

CCD靶面：14.6×14.6（mm）

测量校准波长：在300～1064（nm）范围内用户可选；

测量:典型波长632.8nm,PV为1/10波长； RMS为1/100波长

工作方式：软件触发、内同步或外同步

配套计算分析软件使用

哈特曼波前传感器计算分析软件可实时与事后对采集的图像进行计算分析。根据测试光束的形状，用户选取计算模型。方形光斑选取勒让德（lengender）模型，圆形光斑选取泽尼克（zernike）模型。软件将计算得到测试光束的波前分布，PV，RMS和像差系数，并实时三维显示。用户可以根据自己的需要选择扣除初级像差系数（倾斜、离焦、像散、慧差和球差），并显示扣除像差后的波前分布，PV，RMS和像差系数。用户还可以选择附加计算分析模块，得到斯特列尔比（SR），点扩散函数（PSF）和光学调制传递函数（MTF）。

特点

♦高空间分辨率，可测量的像素点数量仅受限于CCD分辨率

♦低级次与次畸变的波前图像

♦实时测量+位相和强度同时测量

♦光束质量因子M2性测量，无需额外附件，无需移动部件

♦动态范围宽，可达1500λ

♦适用波长范围宽，涵盖紫外、可见光、近红外、中远红外等波段

♦结构紧凑、使用轻便、性价比高

 应用群体： 针对高精的科研单位。