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KT-VII系列平面平晶检测仪
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KT-Ⅷ系列平面光带检测仪(机械密封平面检测)
选用平面平晶 ——随机附赠光带检测参照图
用途:
机械密封件、光学零件、平台、平板、导轨等高平面零件的平面检测。
功率:20W 电源:220V/50Hz 专用灯源照射
平面平晶规格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上属非标立品需订做
平面平晶产品特点
*平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来
测量被测量面的平面度。
*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定
高的平面零件,例如,平面光学零件、平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于
计量单位、实验室作为标准平面和样板。
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