美国FLUKE 热像仪Ti200
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地区:湖南省 株洲市
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Fluke Ti200热像仪|福禄克TI200|红外线热成像仪TI200 技术特征:
Fluke Ti200是业内利用激光测距的高技术实现快速、精准对焦,在任何情况下都可以轻松捕获被测目标,从而呈现一贯完美图像
详细的技术指标 | |
温度 | |
温度测量范围(-10°C 以下未校准) | -20 °C 至 +650 °C |
温度测量 | ± 2 °C 或 2 % (处于 25 °C 额定温度时,取较大值) |
屏显发射率校正 | 是(根据数字和表格) |
屏显反射背景温度补偿 | 是 |
屏显传输校正 | 是 |
成像性能 | |
图像捕获频率 | 刷新率:9 Hz 或 60 Hz(取决于型号) |
探测器类型 | 200 X 150 像素焦平面阵列,非致冷型微测辐射热计 |
热敏度 (NETD) | 30 °C 目标温度时,≤ 0.075 °C (75 mK) |
总像素 | 30,000 |
红外光谱带 | 7.5 μm 至 14 μm(长波) |
可视(可见光)照相机 | 工业性能,500 万像素 |