介电常数和介质损耗试验仪
价格:电议
地区:北京市
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手 机:18911395947

介电常数介质损耗因数测试仪数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的度和测量的同一性,是人工读值和人工计算无法比拟的。



附表一介质损耗因数测试仪系统主要性能参数一览表

 

BH916测试装置                            GDAT高频Q

 

平板电容极片 Φ50mm                   可选频率范围20KHz-60MHz

 

间距可调范围15mm                    频率指示误差3×10-5±1个字

 

夹具插头间距25mm±0.01mm               主电容调节范围30-500

 

测微杆分辨率0.001mm                     主调电容误差<1%1pF

 

夹具损耗角正切值≦4×10-4 1MHz)        Q测试范围21023



介电常数介质损耗因数测试仪标准配置:

高配Q 一只 

试验电极  一只 c类)

电感      一套(9只)

电源线    一条

说明书    一份

合格证    一份

保修卡    一份


介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:

 

2.1 tanδε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz120MHztanδε变化的测试。

2.1.2 tanδε测量范围:

tanδ0.10.00005ε150

2.1.3 tanδε测量(1MHz):

tanδ±5%±0.00005ε±2%

工作频率范围:50kHz50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:11000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH


 介电常数介质损耗测试仪特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz(tanδ)(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz60MHz, 50kHz160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。



介电常数介质损耗测试仪装置:

2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2
平板电容器间距可调范围和分辨率:08mm,±0.01mm
2.3.3
圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4
圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF
2.3.5
装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6
装置损耗角正切值:2.5×10-4