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介电常数介质损耗因数测试仪数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的度和测量的同一性,是人工读值和人工计算无法比拟的。
附表一介质损耗因数测试仪系统主要性能参数一览表
BH916测试装置 GDAT高频Q表
平板电容极片 Φ50mm 可选频率范围20KHz-60MHz、
间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字
夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500
测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差<1%或1pF
夹具损耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q测试范围2~1023
介电常数介质损耗因数测试仪标准配置:
高配Q表 一只
试验电极 一只 (c类)
电感 一套(9只)
电源线 一条
说明书 一份
合格证 一份
保修卡 一份
介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε测量(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作频率范围:50kHz~50MHz 四位数显,压控振荡器
Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率
可调电容范围:40~500 pF ΔC±3pF
电容测量误差:±1%±1pF
介电常数介质损耗测试仪特点:
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
介电常数介质损耗测试仪装置:
2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm,±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4