X荧光镀层测厚仪
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上市时间:2012年2月
创新点:结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管,使X射线光束强度大、斑点小,样品激发更佳,确保同级别中性,分析结果只需要几秒钟。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。配有各种材料筛选应用的校准包,预装了超过800种应用参数/方法。具有先进的系统安全性的特点,为日常操作员设定简单的用户界面,而管理员级别可进入系统进行维护,并通过自动锁定功能防止未授权的操作。改进的功能允许几秒内将结果导出到Excel表格和创建自定义,包括统计数据分析和样品图象。
X射线荧光分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了:
卓越的性能
坚固耐用的设计
电子行业
电子、电气原件
有效控制生产过程,提高生产力
五金电镀行业
电镀处理的成本小化,产量化
金属合金行业
金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析
三种配置选项
固定样品台
| 加深样品台
| 程控样品台
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