滕州华普供应硅油杂质分析专用气相色谱仪
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硅油杂质分析气相色谱仪的详细介绍 分析条件 色谱柱:SE-54 30mx0.25mmx0.4um 载气:N2 30 cm/sec 柱箱温度:140℃( 进样器:180℃,分流进样 检测器:FID,200℃ 样品:硅油样品 三、色谱图 出峰顺序:1、杂质 2、杂质 3、y-含氢硅油4、杂质 |
型号 | HP2013 |
测量范围 | 0~100ppm |
测量对象 | 二 |
控温范围 | +20~399 |
功率 | 2400W |
尺寸 | 长670宽420高460mm |
重量 | 60kg |
指标--> 检测器 | 灵敏度或敏感度 | 漂移 | 噪音 | 线性范围 | 操作温度 |
氢焰(FID) | ≤1×10-11g/s | ≤5×10-13A/30min | ≤2×10-13A | ≥106 | 400℃ |
热导(TCD) | ≥2500mV.ml/mg | ≤100uV/30min | ≤20uV | ≥104 | 400℃ |
电子捕获(ECD) | ≤1×10-13g/ml | ≤50uV/30min | ≤20uV | ≥104 | 350℃ |
火焰光度(FPD) | ≤1.4×10-12g/s(P) ≤5×10-11g/s(S) | ≤4×10-11A/30min | ≤2×10-11A | P≥103 S≥102 | 400℃ |
氮磷(NPD) | ≤1×10-12g/s(N) ≤5×10-13g/s(P) | ≤2×10-12A/30min | ≤4×10-13A | ≥103 | 400℃ |
华普
制造商
全新
山东滕州