KOSAKA LAB SEF 3500(表面粗糙度轮廓测定机)

Surfcorder SEF 3500表面粗糙度轮廓一体机，可进行高，高水平分析和多功能粗糙度轮廓测量。操作简单，显示一目了然。

特点：

*高表面粗糙度轮廓测定机，一机两用，可进行表面粗糙度和轮廓形状测量。

*配备有符合新ISO,DIN,ANSI,JIS标准的五十多种评价参数。

*一个宽范围，高分辨率的检测器，提供了在同类产品中更优越的高测量。

*通过简单的性操作，可更换形状、轮廓、测定装置与表面粗糙度测量装置，并不必对电缆重新布线。

*配有易于操作的操作杆，选定需要操作的轴，即可实现任何的移动。

*SEF 3500配有全息光栅尺，可提高宽/窄范围测量和Z轴的分辨率，增加更加稳定的安全系数。

*独特的真直度保证。

*驱动装置可以任意倾斜45度，更方便不规则样品的量测。

规格：

粗糙度测定

测定参数：多达五十多种，见产品目录。

放大倍率：纵50-500000，横1-5000。

测定范围：纵600um,横100mm。

记录项目：测定值，测定条件，日期时间，输入资料（各种文字及图形资料）。

评价长度：0.25,0.8,2.5,8,25,80mm/任意值（0.2mm以上）

/λc x1，x2，x3，x4，x5。

驱动速度：0.05，0.1，0.2，0.5，1，2 mm/s，高速移動，10mm/s及手动。

切断值（cut-off）:

粗度：λc 0.008,0.025，0.08，0.25，0.8，2.5，8 mm，R+W(JIS82无CUT-OFF)。

波纹度：fl 0.8,2.5,8,25mm,fh 0.08,0.25,0.8,2.5mm。

滤波方式：高斯（Gauss），2CR，特殊高斯。

资料点/分解能：32000点/16位元。

自动水平：小二乘法，二点法

辅助功能：自由排列组合记录，记录图刻划，平均处理，统计处理，中途终止，测定再演算，检出器登记，注解记录，自动感度校正，mm/inch单位切换，自动测定，部分处理

检出器上下动作：检出器上下范围250mm。

  自动停止±0.2um/100mm。（靴片使用时）

X轴真直度：0.2um/100mm。

检出器：触针R2um钻石头，测定力0.7mN。

轮廓测定

解析项目：

放大倍率：纵横1-200倍。

测定范围：纵50mm，横100mm。

驱动速度：0.02，0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s。高速移动2,10mm/s及手动。

资料数：300000点。

补助机能：自由排列组合记录，记录图刻划

检出器上下动作范围：200mm。

真直度：1um/100mm。

检出器：R25um,10-30mN,追随角度：爬升77度，下坡87度。

共同规格：

装置尺寸：測定部：W1,500 x D770mm /约80kg

解析部约30kg