Semilab – Sopra椭偏仪 GES5E 薄膜厚度、n值及k值的测量
价格:电议
地区:上海市
电 话:021-58200880-886
手 机:18616823896
仪器简介:

应用:
◆ 薄膜厚度、n值及k值的测量,可应用于任何薄膜生长或者镀膜工艺的监控。



技术参数:

Sopra公司是世界上的椭偏仪设备供应商,其高的椭偏仪在半导体、化合物半导体(GaAs/SiC)、LCD及MEMS领域有着非常广泛的应用。目前,全世界有超过500台的Sopra椭偏仪应用于各个行业。



主要特点:

◆ 高的薄膜测量(膜厚、n值、k值);
◆ 全世界家宽光谱椭偏仪技术的发明者;
◆ VLSI及其他的测试标准均由Sopra标第;
◆ 强扩展性:Fast UV VIS CCD 模式,高分辨率DUV-VIS模式及FTIR/4PP功能。

企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

法国