X荧光光谱仪BXE-50PR是采用能量色散X荧光分析技术（EDXRF），多种同时测量的元素分析仪器， 采用美国Si-PIN探测器。根据用户的应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素。该仪器可 广泛应用于环保、考古、机械磨损检验、半导体检验、ROHS指令、金属部件检验、金属材料 检验等行业。专门针对ROHS&WEEE指令使用的标准配置为Pb、Hg、Cr、Cd、Br五种元素，是应对欧盟ROHS&WEEE 指令的理想选择。

产品特征 * 采用能量色散X荧光分析技术（EDXRF），实现多种元素同时测量。 * 可根据用户的应用要求配置为从Na到U的任意多种元素。 * 采用多种措施优化光路设计和配置，保证了特征X射线的探测效率。 * 采用50W侧窗X射线管，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。 * 基于Windows2000/XP的程序功能丰富，各种图表和趋势图为决策提供直观的支持。数据可直接输出到 Excel，便于进行统计分析。 * 备有基于神经网络模型的经验系数法建模，非常稳定可靠。

X荧光光谱仪技术规格 X 射线管： 50W侧窗x射线管。 高压电源： 50W（50KV1mA），美国Spellman公司生产。 分析元素种类： 从Mg到U的任意多种元素。 探测器： 美国Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统。 单个样品测量时间：（含换样抽真空时间） ≤3～5分钟。 交流220V供电设备： 1KVA交流净化稳压电源。

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