1. 使用一体化微型端窗X光管，大面积Si-PIN探测器，具有高信噪比的电子线路单元，使仪器具有与台式X荧光光谱仪相当的测    试性能；
2. 样品腔为封闭圆形结构，具有良好的射线屏蔽性能；
3．四组可方便切换的滤光片，使仪器不论全元素分析还是ROHS检测，对应各种基材测量不同的元素，都能得到理想的效果；
4．主机使用PDA掌上电脑，使用无线蓝牙连接，轻巧方便，测试数据尽在掌中；
5. 包装箱与仪器一体化设计，紧固防水，对恶劣野外环境也能应付自如；
6. 大容量锂电池供电，仪器可独立工作足够长时间，也使用交流转直流适配器，连接交流电源工作。

技术指标

元素分析范围从钾（K）到铀（U）。
分析含量一般为1ppm到99.9％。
可测试镀层厚度薄至0.05um。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回归程序。
多次测量重复性可达0.1％。
长期工作稳定性为0.1％。

标准配置

与仪器一体化设计的包装箱。
四组可切换滤光片。
激光定位装置。
带铅屏蔽罩封闭样品腔。
SI-PIN探测器。
信号检测电子电路。
一体化微型端窗X光管。
无线蓝牙连接PDA掌上电脑。
自带充电电路的大容量锂电池和交流转直流适配器。

应用领域

水文调查
镀层测定
镀液分析
地质探矿
考古研究