ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比，它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。

总体描述：
1982年世界上台商业用共聚焦显微镜在德国卡尔蔡司公司诞生，从此显微镜的发展进入了一个全新的时代。共聚焦显微镜也为材料分析提供了一个全新的领域和工具。多年来蔡司公司从未停止过对共聚焦技术及应用的研发脚步，鉴于传统激光共聚焦显微镜只能给用户提供黑白颜色图像且对同亮度不同颜色组织无法识别的缺陷，蔡司公司新推出了能够反映组织真实颜色高分辨率共聚焦显微镜Axio CSM 700。
品质源于创新、科学源于发现！新型Axio CSM 700真彩色共聚焦扫描显微镜主要用于材料科学的研究，品质检测和常规检查等，可对样品进行无接触分析、地形图测量，采集速度为170帧/秒。操作软件简单便捷，可进行粗糙度、厚度和颗粒度分析等，另外，测量的结果和图像可以形成。所有这些杰出的产品性能都可以大大提高您的科研和检测水平。

产品特点：
1、采用全波段氙灯作为光源，真实反映样品表面颜色信息
2、采用共聚焦扫描方式成像，具有更高的图像分辨率
3、无接触分析，对于样品表面无损伤，可重复再现测量与分析。
4、超大景深，Axio CSM 700可以获得扫描电镜的景深范围，可实现对负责样品表面的高度和粗糙度分析。
5、操作简洁方便，大幅提高工作效率。

技术参数：
1、光源：氙灯（波长400-700nm）
2、分辨率：0.16um
3、图像分辨率：1280x1024像素
4、采集速度：7.5fps（高速彩色模式）；>100fps （线帧式扫描模式）
5、色彩深度：3x8bit（RGB）
6、测量高度：15mm，0.01um步进
7、图像处理与测量：2D，几何参数测量，图像处理
3D，高度、粗糙度、体积、表面积、颗粒度等分析

Axio CSM 700 显微镜可测量粗糙度并快速产生高度的轮廓图。基于高分辨率和彩色显微镜成像，用户可以决定测量哪个位置的高度以及获得什么样的高度轮廓图，这样试样表面被损坏的、没有代表性的区域可以被遮盖或用轮廓线代表。 另外， 3D粗糙度参数计算执行DIN EN ISO 4287标准，可进行表面的分析以获得3D特征，如润滑槽的体积。 测量结果可同时显示曲线图和振幅密度功能。用不到1分钟的时间内就可完成二维或三维的粗糙度分析测量。

层厚测量
非接触式，速度快，可重复性
采用非接触式模式，Axio CSM 700可迅速测量出透明层厚度。通过测量出的数值，可以得出关于涂层表面光洁度和其它变量的信息。

次表面界面和细节
对于多层系统和半透明材料，Axio CSM 700,可以获得表面下层的组织结构，如不同质性、孔洞、夹杂和界面。当知道中间的反射系数后，就可测得层厚和光路长度。

分析薄层
在显微技术领域，50 nm到5 µm范围的层厚正逐渐变得越来越重要（像半导体转换电路和薄膜传感器）。材料和基底的多样性要求表面分析和显微元素分析具有高灵活度。使用Axio CSM 700，可迅速获得显微结构成份的轮廓和层厚、轮廓的高度、结构宽度。 这些操作都可直接进行，并且对样品没有破坏性，不需对样品制样，效率高。

金属表面
用于新材料的研发
未来在汽车行业对钢性能要求的提高，建筑和航空领域对非金属材料承载力要求的提高以增加安全性能，要求我们要越来越重视材料的性能。Axio CSM 700 可为用户提供质量保证，提高研发能力，建立标准。Axio CSM 700无论是在质量控制上还是在研发方面都具有决定性的贡献作用，如在微型部件领域。
你可以轻松在微米范围内测量出部件的半径和角度值。为了提高使用寿命，减小润滑剂的粗糙程度，可通过轮廓进行分析，在几秒钟内，就可测得Ra 为0.1或以上的可靠据。

保证质量
Axio CSM 700可测量表面的几何尺寸，这样一方面可保证实现功能性表面涂层的完美应用，另一方面，可保证其机械性能。通过感兴趣区域可缩小分析的面积或体积。根据高度、反射率或色彩的差异，可测量体积和面积比。
高分子材料和玻璃
可靠的质量分析
不仅在质量控制方面Axio CSM 700具有优势，在高分子和玻璃行业，Axio CSM 700也同样具有优势。共聚焦方法可完美的用于对光学部件和透明部件的3D形貌分析。
使用Axio CSM 700.，在生产过程中，可进行三维的、无损的检测，以实现对质量的控制。对于透镜的几何特征，如半径，通过软件可自动测量。可进行体积和面积的计算和对比。
在不同的位置和方向，可进行二维的粗糙度分析。在模塑的聚氨酯泡沫部件的生产中，如鱼缸的过滤器、麦克风套或计算机鼠标垫，可对其气孔大小的分布进行测量，以对模塑完的聚氨酯泡沫部件进行质量控制。实际上，泡沫部件会有一些典型的缺陷，这是由于对模塑温度的控制不足或原材料的化学成分方面的原因造成的，从而导致表面质地的厚度和气泡的不同。使用Axio CSM 700，可对泡沫表面进行三维形貌分析，如表面粗糙度的测量、气泡的体积、接缝和染色，从而提高产品质量，减少不合格产品的数量，保太阳能领域
真彩色共聚焦图像，突出的图像质量和3D形貌图像信息。
使用Axio CSM 700，可提高太阳能领域的研发和生产效率。

现代的分析方法保证观察到微小的组织结构
Axio CSM 700 可测量微小的高度差，优于40 nm （标准实验室条件），小的步高为10 nm，采用非接触式和无损方法将这些信息体现在3D形貌信息中。这些的分析可促进太阳能电池的生产和研发。也只有利用这种创新的分析技术，才可以实现对生产的指导和检验作用。

逐行快速检测
Axio CSM 700具有的综合测量功能可为您提供可靠的检测结果，监督无误差生产。这样可保证产品的质量，满足高技术要求。

推动微型化前行
Axio CSM 700涵盖了现代电子元件生产中会遇到的所有测量范围。任何时候都可测量几何参数，如半径、距离、粗糙度和体积。Axio CSM 对于印刷电路板生产过程中的质量控制效果显著。当你测量关键性的部位像焊接点时，要对刻蚀后的PCB刻痕和基底进行非接触式分析，Axio CSM 700 可显示表面的曲线图、PCB刻痕的几何参数，只需一个单独的测量程序就可显示3D的真彩色图像。

造纸和印刷行业
只需一步就可实现的质量评估
Axio CSM 700可捕获一个单独Z轴堆叠真彩色高度图像信息。这在印刷行业对于解决相当大的时间压力非常重要。在造纸行业也具有同样重要的作用，可从其优异的光学成像和结果显示中大大受益。

非接触式检测
由于Axio CSM 700对于有涂层和没有涂层的纸张可实现直接的非接触式的3D表面形貌测量，因此对造纸和印刷行业的质量控制尤其适合。对印刷质量进行监控，以及纸的性能和可印染性进行分析。Axio CSM 700 可得出粗糙度和平滑度的参数，以快速评估质地、拉伸力和纤维制备情况。可立即进行偏差优化。

医学工程领域
的测量
在医学工程领域，用现代材料制成的身体移植物，像骨骼、关节、牙齿，其生产制造上都尽可能的延长使用时间。对于材料表面特性的研究，Axio CSM 700 可为您提供完善的非接触式3D形貌测量结果。

聚焦医学
Axio CSM 700软件的3D视觉技术，可快速实现表面的磨损和摩擦力的定量分析。一些几何测量数值和功能参数，像承载比、面积和体积特征，可保证对表面结构的特征分析，并可将所得的结果以图形和数据表的形式分别保存于系统中。