白片内存颗粒测试夹具一托八
价格:电议
地区:广东省 深圳市
传 真:0755-23036306
DDR3内存条测试治具
结构,零磨损
金线导电,不烧焊盘和IC
过压力保护,导电胶寿命更长
压力自适应,兼容不同厚度的颗粒
限位框可更换,兼容不同大小的内存颗粒
参数:
产品型号: DDR3-GF6U63
外壳材质: 铝合金, 电木
导电体: 金线导电胶( GCR )
绝缘电阻 : 1000 mΩ? Min,At DC 500V
耐电压: 700 AC / 1Minute
接触阻抗: <30 mΩ
机械寿命: 100,000 Times
工作温度: From -40℃ to + 155℃
特点:
手动翻盖滚轴式结构,省力又方便,零磨损,号:ZL56976.7压块浮动结构,延长导电胶寿命,适用不同厚度的IC
通用性高,只需换限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤16MM)金手指镀金厚度是普通PCB的10倍(30 μ m),保证测试治具有更好的导通和耐磨性金线导电胶减短IC与PCB之间数据传输距离,测试更稳定,频率可达2000MHZ,且更换方便,成本更低全新设计更薄,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,频率衰减更低,减少误测