F40小物体膜厚测试仪
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F40 小物体膜厚测试仪(北京,上海,深圳,成都,西安)
主要用于测试各种透明半透明的膜厚
产品简介:
1 可安装在任何显微镜外,有三种不同波长选择(波长范围从可见光400nm至近红外1700nm);
2 测量的薄膜厚度范围从20nm 到 20um,为 0.1nm 。可提供小10um光点(50倍放大倍数)来测量微小样品。
产品特性:
1 操作简单、使用方便;
2 测量快速、准确;
3 体积小、重量轻;
4 价格便宜。
产品应用:
1 半导体行业: 光阻、氧化物、氮化物;
2 LCD 行业: 液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
3 光电镀膜应用: 硬化膜、抗反射膜、滤波片