Diatest塞规测量系统(BMD)
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产品属性
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产品描述
塞规式测量系统(BMD)是一种具有自动显示、自动定中心功能的高测量仪器。此塞规式测量系统使用方便,适合静态和动态测量。通过手动测量可以检测出孔的尺寸偏差和形状误差,也可以安装在测量设备上进行自动检测。
此测量系统具有应用范围广、操作简单、高、结构牢固等优点。标准产品中有很多可选择的基本型号,并提供了满足特定测量范围的附件,以确保可以测量实际应用中所遇到的多数孔径。量仪的显示部分可以是机械表、数显表或连接到分析设备的传感器。使用校对环规进行零点校准。
技术参数
· 适用范围:通孔、盲孔、锥孔、台阶孔、方孔等 |
· 测量范围:Ф2.25 -Ф330mm: |
· 测量深度:0.6-2000mm |
· 重复:≤1μm |
· 线性误差:≤1% |
· 使用寿命:满足100万次以上测量要求 |