型号：Planum-3000 用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/ 反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。 全自动光学元件光谱分析仪-适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。 操作软件界面 全自动光学元件光谱分析仪-技术参数： 类别 I型 II型 III型 探测器 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Sony ILX511 x线形CCD 阵列 Hamamatsu S7031背照式2D-CCD 检测范围 380-1000nm 380-1100nm 360-1100nm 波长分辨率 <1.35nm <1.35nm <1.35nm 信噪比（全信号） 250：1 250：1 1000：1 相对检测误差 <0.6%(400-800nm) <0.6%(400-800nm) <0.2%(400-800nm) 操作方式 手动 电动 电动 角度分辨率 0.1 º <0.0002º <0.0002º 重复定位： - <0.005 º <0.005 º 旋转速度: - 25 º/s 25 º/s 透射/反射测量角 >8º ， <80 º,可扩展到5º 单次测量时间 <