FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240

X射线荧光光谱仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

简介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
XDL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。
XDL 系列仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
?测量大规模生产的电镀部件
?测量薄镀层，例如装饰铬
?测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
?全自动测量，如测量印刷线路板
?分析电镀溶液

设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。
XDL210：平面样品平台，固定的Z轴系统
XDL220：平面样品平台，马达驱动的Z轴系统
XDL230：手动操作的X-Y样品平台，马达驱动的Z轴系统
XDL240：马达驱动的X-Y样品平台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的Z轴系统，可编程运行，可用两种速度运行。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有手动或者马达驱动X-Y样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。
所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。
XDL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器，型式许可符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法规规定。

通用规范
用途:能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。
元素范围:从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可多同时测量24种元素
设计理念:台式仪器，测量门向上开启
测量方向:由上往下