卡表式薄膜测厚仪
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产品品牌:
NAN FANG
产品型号:
CH-1-S

产品功能:
本测厚仪适应于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。

产品参数
Ø 分度值 0.001mm 量程 0-1mm
Ø 上下测量面为平面时,测量面地试样硬设备听负荷为0.5N到1.0N之间。
Ø 上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50mm时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间.
Ø 测量 100um以内 1um
100um到250um 2um
250um以上 3um
使用方法
Ø 测试前转动表盘让指针调到零位,并试行按动捍手几次,回零后方可测试。
Ø 使用时按下捏手使测头升起,将被测物件放于上下测头之间。轻放捏手使之接触,此时读数即为衩测试样的厚度。
Ø 为使测试准确,可在同一被测物的不同位置进行测量,取其平均值。
Ø 使用完毕,应将仪器擦净,装入仪器盒,放置干燥处,防止受潮。