Inspect系列扫描电子显微镜(SEM)采用先进的样品室真空技术以及FEI的世界一流电子光学和样品生产量技术。只要检验、表征、工艺控制和 失效分析至关重要，则Inspect S50和Inspect F50型显微镜的高分辨率成像必不可少。
? 易用且直观的软件可确保初学者也能进行高效操作。
? 轻松表征导电和绝缘样品。
? 使样品制备数量降至:低真空可实现绝缘样品的非荷电成像和分析。
? 确保在高真空和低真空条件下进行准确的导电和绝缘样品EDS和EBSD分析， 使用“经由透镜”抽气技术创造高真空和低真空环境,