蓝宝石膜厚测试仪
■利用反射干涉的原理进行无损测量
■可测量薄膜厚度及光学常数，测量达到埃级的分辩率
■操作简单，界面友好，是 目前市场上具性价比的膜厚测量仪设备
■设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm 到1700nm可选
■并有手动及自动机型可选，应付不同 的研发或生产要求