产品品牌：

GAPP-金埃谱

产品型号：

V-Sorb 4800S-容量法

V-Sorb 4800S容量法碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)应用领域

1) 超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积分析测定；
2) 粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；
3) 高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET理论教学实验；
4) 电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；
5) 其它与材料表面性能相关的研究工作.

全自动4站碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)特点

A.碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)真空系统

1)的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度;

2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换;

3)采用德国进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10-2Pa (3x10-4Torr).

B.碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)提高测试措施

1)采用与同类进口产品相同品牌的高硅薄膜压力传感器,压力测量为相应读数的0.15％,远远优于0.15％的全量程(FS)传感器;

2)与国外同类产品类似,采用0－10Torr(可选)和0－1000Torr双压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0－10Torr(可选)的硅薄膜压力传感器远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15％);

3)的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;

4)的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移.

C.碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)数据采集及处理

1)采用高及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;

2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理.

D.碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)控制系统

1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;

2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染.

全自动静态法碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)简介

V-Sorb 4800S碳化硅BET比表面检测仪(比表面积仪)是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积检测仪器,众多科研院所及500强企业应用,采用静态容量法测量原理;相比国内同类产品,多项技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.

金埃谱科技是国内早参与比表面积标准物质研制及标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性,并获取权威机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模,通过ISO9001的企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
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