X射线镀层测量仪
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X射线镀层测量仪是采用高次数率的比例接收器,可以作出的测量.而使用fischer公司的基本参数计算可以在没有使用标准片的情况下对金属五金件的镀层厚度及电镀液中的离子含量进行测量,基本软件WinFTM是可以同时测量多5个元素,在另外选购的WinFTM BASIC软件下是可以测量多至24元素,在元素范围氯CL(17)至铀(92).
X射线镀层测量仪的优点
> 采用国际上先进的、稳定性的射线源,体积小,使用寿命长,易维护。
> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单,便于维护。
> 快速多点校正法技术保证了系统的长期。
> 快速、连续、非接触测量、实时显示高测量值。
> 操作站:提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台,使用新的JAVA 技术。
> 采用双放大技术和独特大电离室,提升测量范围及。
X射线镀层测量仪的应用:
*可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
*可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
*薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外,适用于无铅焊锡的应用。
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