产品品牌：

德国fischer

产品型号：

XDL-220

测量范围：

0.15

X-RAY荧光光谱仪（膜厚仪）是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手,可同时分析多24个元素或五层以上镀层.元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％,镀层厚度薄可达0.005um，一般在20um内,小孔准直器（小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。

X-RAY荧光光谱仪（膜厚仪）产品特点：
★ X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的。

★ 无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。

★ 能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。

★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析）
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

★ 绘图软件（选配件）
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

★ 电镀液容器（选配件）

★ 各种标准物质（选配件）

X-RAY荧光光谱仪（膜厚仪）,是可用于镀层分析,有限的控制生产品质.德国菲希尔铜层膜厚分析仪原厂出口,质量有所保证, 并且稳定性高,测量准确.
联系人:吴小姐
 
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