产品品牌：

德国fischer

产品型号：

XDL

测量范围：

0.15MM

fischer镀层测厚仪采用了全新设计的发生器，全新设计的光学编码定位系统测角仪，全新优化设计的光路系统，基于当前先进的电子技术全新设计的电路板，仪器小巧，结构紧凑，灵敏度高，性价比。它完全突破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果优化、体积小型化、功能化的成功尝试。

fischer镀层测厚仪可测元素范围：
氯(CL) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
电脑系统：IBM相容,17”显示器

fischer镀层测厚仪综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
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