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图文详情
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产品属性
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- 产品品牌:
- 3DM
ZBJE激光扫描坐标测量机(抄数机)
在三维坐标空间中,被测量对象任意安放,采用激光扫描,快速完成各类几何形
体的特征点、线、面,自由两面的扫描探测,用于逆向工程设计、复杂曲面的快
速扫描、抄数以及工件的三维测量。可完善配置触发测头,实现对各类几何实际
轮廓和虚拟的点、线、面的各类坐标点进行探测和完成尺寸、角度及形位公差的
测量,适合机械、模具、逆向造型、测绘、教学及各类艺术领域。
特点:
1、全花岗石构件结构,刚性强、稳定、保持持久;
2、性价比高、维护简单、操作方便、带有温度修正体系;
3、适应生产现场,有机动、机/手动、手动订货选择。其中,手动采用技术
、可实现坐标快速、微动驱动和锁紧三位一体的准确坐标定位。
4、柔性选择性强,可配置不同规格等级的光栅尺系统、传感器测头系统,可
实现开环、闭环式运动控制,实现扫描、检验测量多种扩展功能。
5、悬挂触发式测头可实现三坐标测量功能。
性能
型号 ZBJE激光扫描坐标测量机(抄数机)
量程 X: 300~1000mm Y:200~1200mm Z:200~800mm
运动方式 手动、机动、自动 的开环、闭环多种方式
激光扫描测头 美国Nxsensor激光扫描传感器
激光扫描测头分辨率 0.005mm
激光扫描测头 0.025mm
激光扫描 (0.03+L/20) mm L: m
采样速度 每秒钟6400点
激光扫描软件 Leading laser scanning software / Nxclone laser
scanning software
文件输出格式 Igs 、nwf 可实现 UG 、PRO-E 等逆向工程软件数据转换
触发测头系统 Renishaw 触发式测头
触发测头测量分辨率 0.001mm
触发测头测量系统 (0.005+L/200)mm L: m
触发测头测量系统软件 DELCAM PIN LITE 、DELCAM INSPECT X-DMIS
本公司供应3DM激光扫描坐标测量机(抄数机)质量保证,欢迎咨询洽谈。