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梅特勒XP微量天平
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梅特勒XP微量天平

XP26/XP56

1.        采用高高分辨率后置式传感器，满足用户高的称量需求

2.        天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确

3.        GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作

4.        优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

5.        完全可拆卸，清晰的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁

6.        丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量

 

型号

XP26

XP26DR

XP56

XP56DR

称量值(g)

22

5.1/22

52

11/52

可读性(mg)

0.001

0.002/0.01

0.001

0.002/0.01

重复性(sd)(mg)

0.0025

0.002/0.008

0.006

0.002/0.014

线性误差(mg)

0.006

0.01

0.02

0.03

典型稳定时间(s)

3.5

3.5/2.5

3.5

3.5/2.5

秤盘尺寸(mm)

40*40

40*40

40*40

40*40

DU=双量程；sd=标准偏差

品牌/商标

梅特勒

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

瑞士