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梅特勒XP/XS微量天平
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驭璟（上海）科学仪器有限公司

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XP2U/XP6

1.        采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

2.        天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确

3.        GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作

4.        优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

5.        丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量

6.        标配CarePacSR，用于天平的日常测试，确保获得准确称量结果

XS3DU

1.        采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响

2.        优化天平适应性的参数设置，满足不同称量环境要求

3.        丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量

4.        GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作

型号

XP2U

XP6

XS3DU

称量值(g)

2.1

6.1

0.8/3.1

可读性(mg)

0.0001

0.001

0.001/0.01

重复性(sd)(mg)

0.00025

0.0008

0.0008/0.006

线性误差(mg)

0.0015

0.004

0.01

典型稳定时间(s)

10

7

6

秤盘尺寸(mm)

φ16

φ27

φ27

DU=双量程；sd=标准偏差

品牌/商标

梅特勒

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

瑞士