一、X荧光光谱仪工作原理
X射线发生器放出的X射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线－特征X射线。根据受激后退激过程中所放出的特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。EDX1800B相同配置

二、X荧光光谱仪基本特点
 探测器采用美国航天技术的半导体探测器，能量分辨率优于149ev；l
 真空测量，限度的提高测量元素的检测限，有利于卤素测量；l
l 自动调整光管功率，对激发轻元素和中重元素都有良好的激发效果；
 圆形品仓设计，适应于各种样品的检测，可以测量国体、液体、粉末；l
l 开放式工作曲线标定平台,可量身定做的有害物质检测和控制方案；
l 采用国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。EDX1800B
l 采用模式识别及数据库技术，实现仪器分析智能化；
 配置滤光片装置大幅提高峰背比；l
 校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；l
 可根据用户要求自行定制测试输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求。l
l 可以在ROHS分析软件上开展不锈钢、合金、贵金属及全元素分析。
 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；l
l 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）检测；
l 双重射线保护（软件、硬件），确保操作人员辐射安全，获四川环保局安全豁免管理。EDX1800B相同配置
三、X荧光光谱仪主要技术指标
 分析元素范围：Mg-U；l
l 元素含量分析范围：1ppm -99.9%；
 采用美国进口的Si (PIN)半导体探测器计数，能量分辨率优于140eV；l
l 测量范围：1－30KeV； EDX1800B
 重复性：l >65%>97%(N为计数率)；
l 正高压：5kV-50kV；管流：1μA-500μA；
 真空泵额定功率：550W；l
 仪器额定功率：50W；l
l 整机能量分辨率：145eV；
 检测时间：120S～600S（时间随样品而调整）；l
 10秒钟真空度可达10-2Pal ，高真空区域10-1-10-5Pa；
 检出限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20ppm；l
 仪器重量：40Kg；l
 仪器尺寸：700（W）* 400（D）*430（H）mm；lEDX1800B同配置
四、X荧光光谱仪配置
1 主机1台（大功率钨靶X光管、50KV正高压电源、进口Si (PIN)电致冷半导体探测器、2048道分析器）
2 压样模具1套
3 真空系统1套
4 压样机1套
5专用软件1套
6 品牌计算机1套
7 激光打印机1台
8 吸尘器1台
9 随机配件1套
EDX1800B相同配置