X荧光光谱仪技术参数  

1、测量范围：1-40Kev；

2、 可分析元素范围 ： Na-U；

3、分析含量范围：1ppm-99.99%;

4、 分辨率：优于125eV；

5、重复性： >65% >97%(N为峰面积)；

6、 工作环境温度：温度0—40℃；

7、 工作环境相对湿度：≤75%（不结露）；

8、 测量时间 ：10-2550s ( 可调整 )；

9、 输入电源：AC 220V ± 10%，50Hz ；

10、 额定功率 ：50W ；

11、 仪器尺寸：720(W)x460(D)x435 (H)mm ；       

12、 样品腔尺寸：?240x80mm；

13、 重量：约55Kg；