LANGER XF1近场探头组 30Mhz-6Ghz
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频率范围30MHz ~ 6GHz 由4个磁场探头和1个电场探头组成 磁场探头 XF-R 400-1,XF-R 3 – 1,XF-B 3 – 1,XF-U 2,5 - 1 电场探头 XF-E 10,含SMA-SMA电缆 近场探头组XF 1各探棒介绍
特 性 | 说 明 | 类 型 |
XF-R 400 – 1:直径约25mm,高灵敏度,低分辨率,可以距离被测物10cm使用,检测场的分布,用于磁场源定位,分析干扰源。 频率范围 30 MHz-6 GHz。 直径约25mm。 | ||
XF-R 3 – 1:探头尺寸小,分辩率为毫米级。 在布线、IC管脚、旁路电容及EMC元件等区域,通过移动探头,可以检测磁场的分布和方向。 频率范围30MHz-6GHz。 分辨率约1 mm。 | ||
RF-B 3-1:用于检测扁平单元表面垂直发射的磁场。 对于PCB有些有遮挡部分的电路,可能无法用XF-R 3 – 1测量场方向,这时可以使用RF-B3-1来测量。 频率范围30MHz-6GHz,分辨率约2mm。 | ||
XF-U 2,5-1:用于有选择性地检测细小布线、元件连接处、电容器、IC管脚等的电流频谱。探头顶端有1个约0.5mm宽的磁场敏感的缺口,测试时将这个缺口放在布线、IC或电容器的连接点上。 频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.5mm。 | ||
XF-E 10:探头的仅有0.5 mm宽,用于测试信号线在其表面发射的电场。内部的屏蔽设计,能防止邻近导线对测试结果的影响,能对每根导线进行单独测量。 频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.2mm。 |