光学仪器光谱仪X荧光光谱仪X射线仪器

NaU-E650主要应用技术指标：

     （针对RoHS指令要求，按照工业和信息化部电子信息产品污染控制技术促进中心《RoHS检测用Ｘ荧光能谱仪性能评价规范RoHSQ09-005》的定义和测试方法，筛选测试各种中的Pb、Cd、Hg、CrBrCl）

      NaU-E650 进行XRF筛选允收标准示例（推荐值，按照IEC62321Edition 1.0 2008-12 标准帛定）

    纳优系列仪器完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。纳优E650型RoHS检测仪主要特点： 

1.照射区控制系统   可调整的X光照射区域控制系统，实现了对测试区域的准确把握。从根本上保证测试数据与实际检测区域的完美对应。

2.  成熟、经典的分析方法：    凭借国家“七·五”“九·五”科技攻关计划之科技成果，集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型，为测试者提供可靠、精准、稳定的分析结果。 

3. 自选式功能组合   用户根据自己的控制要求，可自主选择多元素测试软件或膜厚测试软件（二选一）

3.  全自动配置   全自动化的操作模式、人性化的操作界面，测试人员通过鼠标即可完成全程操作(原级滤光片、准直器、样品的移动和样品盖的开关、工作曲线的选择全部实现自动化控制，程序会根据预先设定的测试条件自动进行所有的切换动作)； 

4. 强大的软件功能   

（1）.分析软件可根据样品材质、形状、大小的不同自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量；

（2）提供开放式工作曲线标定技术平台,可为每家用户量身定做的有害物质检测和控制方案；    

（3）融合了一系列先进的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、精准的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等；    

（4）.国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。 

5. 严谨的硬件集成与结构设计   对可能影响整机度及稳定性的器件，全部采用进口高端原厂器件。   

6. 模块化设计与组件选择，确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。 

7. 特别设计的原级、二次滤光系统，既保证了对有害元素的激发效率，同时全面降低了作为干扰因素的背景强度，充分提高峰背比，大幅度降低检出下限。 

8. 开放性工作曲线   用户可很方便的根据自身材质状况，针对性的建立风险材料的专用工作曲线，全面提高工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度提升风险物质的检测，全面提升来料允收判定依据的可靠性。 

9. 全光路射线防护系统   X光管、探测器、复合滤光处理系统、CCD、定位系统、全自动准直器切换系统等光路处理器件均集成在密闭结构中。确保光路系统的稳定性与密闭性，充分保证了测试安全。 

10. 合理的8种复合滤光片组合和自动切换系统，既可以降低来自原级X射线干扰的影响，提高被测元素的灵敏度和测试，同时还具有辐射自动防护功能，有效保护操作者安全。    特制高效散热系统，大幅度提供仪器的可靠性。全光路射线防护设计，又避免了无射线区域的无谓屏蔽与保护，进一步提高了散热效率。全面提升了仪器的环境适应性与稳定性。 

11. 全光路辐射防护配合经典的迷宫式辐射防护设计，同时采用软、硬件双重安全连锁，确保操作人员人身安全。