产品品牌：

梅特勒

产品型号：

XS204DR

【型分析天平XS204DR的参数说明】

产品参数     量程 变量程 可读性 0.1/1mg 称量值 81/220g 称量值重复性(s) 0.7mg 10g重复性(s) 0.1mg 线性 ±1mg    灵敏度漂移 0.0004% 灵敏度温度漂移2） 0.00015%/℃ 灵敏度稳定性3） 0.0002%/a 典型称量时间4） 4s 接口更新速率 23/s 防风罩有效高度(mm) 235 秤盘尺寸(mm) 78×73 天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322  产品用途    产品特点     采用高、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果 全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性 变量程设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求 革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果 易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量 触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置 可移动的显示控制终端，方便天平使用 完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序 e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新

本公司供应梅特勒XS204DR 电子分析天平质量保证，欢迎咨询洽谈。