产品品牌：

郑州汇科

产品型号：

集成电路测试仪ICT33C+ 可测模拟IC

1．工作原理：prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office"

ICT33c+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能是重要，根本，能说明问题的参数。

 

2．系统主要构成：

（1）      CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。

（2）      程序存储器：128K EPROM。

（3）      RAM缓冲区：128K静态RAM。

（4）      显示器：8位液晶显示器。

（5）      操作键盘：20位轻触式按键键盘。

（6）      输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。

（7）      机箱：全塑结构机箱。

 

3．主要参数：

（1）      电源电压：AC220V±15%，50HZ。

（2）      整机功耗：15VA。

（3）      测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。

（4）      编程电压：12.5V，21V。

（5）      测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。

（6）      型号输入位数：3——6位。

（7）      适用温度：0——40℃。

（8）      测试规范：输入短路测试；输出短路测试；100%功能测试。

（9）      输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。

（10）  输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。

（11）  输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。

（12）  输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。

 

4.功能综述

（1）      器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。

（2）      器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。

（3）      器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。

（4）      器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。

（5）      内部RAM缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。

（6）      微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。

（7）      ROM器件读入：仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。

（8）      ROM器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。

 

5．适用范围

ICT33C+具有以下主要用途：

（1）      维修各类电子产品，判断其集成电路故障。

（2）      破译被抹去型号集成电路的真实型号。

（3）      烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。

（4）      开发各类智能电子产品，调试程序。

（5）      检验新购器件的质量。

 

6．测试容量

ICT33C+可测器件包含以下各大系列：

（1）      TTL74、54系列。

（2）      TTL75、55系列。

（3）      CMOS40、45、14系列。

 

郑州汇科电子仪器有限公司 
电话: 
传真:
Q Q: 769689242
销售部：赵经理 13598018197
网址：https://www.huike17.com
总部地址：郑州市二七广场东
西大街与南大街交汇处日月星城19楼A3