DDR2内存颗粒测试治具
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产品品牌:
凯智通
产品型号:
BGA

◆产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤14MM); ◆产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,把频率衰减降到,减少误测; ◆有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高自适应弹簧保证每个IC平衡下压; ◆采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命; ◆采用台湾厂家生产的内存颗粒测试专用PCB,金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的5倍,保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命; ◆采用带定位孔内存颗粒测试专用PCB,探针板与PCB孔定位,保证探针与PCB定位,如有损坏用户可自行更换维修,简单方便,减少返厂维修,为客户争取宝贵时间; ◆采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高,DDR3系列频率可达2000MHZ; ◆探针板采用定位销加螺丝结构,在使用过程中如有探针损坏,客户可自行更换维修,方便维护,为生产争取宝贵时间; ◆高合金IC定位框,保证IC定位,取放IC方便,从而提高测试效率;       ◆测试寿命长,有效测试10万次以上;(视使用环境及相关操作而定) ◆内存颗粒测试治具测试规格:DDR2X8  DDR3X8性可测试8颗内存颗粒; ◆可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具 ◆可以提供相关的技术支持。   产品服务: ※ 该产品用户可自行维修,本公司按成本价提供相关配件; 保修期内,维修(人为损坏、烧坏除外),如果需换件,只收材料成本费。