日本日置 Hioki 3505 C测试仪
价格:电议
地区:福建省
电 话:86 0595 22660974
手 机:13626057277
产品品牌:
日置Hioki
产品型号:
3505

对应1MHz测试,低容量,,高速测试

    • 反复测量更高,适合生产线
    • 校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
    • 测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
    • 比测仪的设定值和测定值的同步显示  
    • 根据BIN的测定区分容量
    • 比测仪和触发器同步输出功能

  • C、 (tan δ), Q项目测试
  • 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
  • 测试源频率: 1kHz, 100kHz, 1MHz,
  • 高速测量: 2ms

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

 

基本参数

测量参数

C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

测量范围

C:0.000fF~15.0000mF
D:0.00001~1.99999
Q:0.0~19999.9

基本确度

(代表值)C:±0.14% rdg.D:±0.0013
※测定确度=基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数

测量频率

3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz,3506: 1kHz, 1MHz

测量信号电平

500mV, 1V rms

输出电阻

1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω上述测量范围以外)

显示

LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间

代表值: 2.0 ms(FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

机能

BIN分选测量功能,触发同步测量,设定测量条件保存功能,比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能,震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz,40VA

体积及重量

260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

附件

电源线× 1,电源备用保险丝× 1