硬體規格
REED RELAY的掃描板

JET-300的掃描板採用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了ICT 掃描板容易損壞的問題, 由於REED RELAY 的應用，使JET-300在性能上大有改善。諸如：
1.Zener diode 測試電壓可達50v，所有測試點皆可使用。
2.小電容和小電感量測較準確和穩定，較不受溫度的影響。
3.電容極性的可偵測率較用CMOS RELAY時大為提高。
4.可耐高壓又有殘存電壓偵測功能，掃描板受到充分的保護。
5.配置功能測試的可行性較高。

Agilent TestJet Technology

寬頻而準確的相位分離量測法
對於在RC或RL並聯電路中的R.L.C. 可用相位測量法，分別量出其零件值，由於信號源頻率寬廣(100Hz到1MHz)，因此可以偵測的範圍優於一般的ICT，像下圖線路中的零件都可以準確量測。

三端點、四端點量測
JET-300可對三端點的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，FET，SCR等。或四端點零件如 PHOTO COUPLER，做正確的測試，如有反插或零件損壞，必可測出。TRANSISTOR的β值也可量測。

電解電容極性測試
以三端點法偵測鋁質電解電容極性反插，可測率100%；以測漏電流方式偵測電解電容極性反插，可測率極高。




軟體系統　
JET-300擁有超越一般ICT的軟体功能，無論是在測試前的程式製作支援軟体, 或是測試後的不良資訊和資料分析，都有高水準的表現。在微軟中文視窗環境下執行的系統程式，操作容易，功能強大。

差零件(焊點)排行榜
系統可列印出不良數多的零件(前十名)和不良次數多的焊點( 前十點)供廠商做品質控制或製程改善的參考。

測試資料統計的日報表和月報表
圖表上半的長條圖用以顯示當月份每日累積OPEN/SHORT，零件不良率及整個測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明瞭地顯示當日各不良原因的百分比。

網路即時監控系統
如果把多台ICT連到內部網路系統 ，則每一台ICT的測試統計資料都可以在網路上的任何一台電腦上顯示，管理者可以很方便地隨時查看生產線的狀況。

網路錯誤訊息查詢系統
只要把ICT 和檢修站都連到內部網路系統, 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯誤訊息，包括：打印機的印出訊息和錯誤圖形顯示。

待測板圖形顯示功能
可在待測板不良發生時，明白顯示不良零件或焊點的位置，亦可在零件位置查詢時顯示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時間和程式調適的時間。如果廠內有網路連線系統，則此圖形亦可在維修站的螢幕上顯示出來。