产品品牌：

大平

标准磁探试片 D1型

    本品用于磁粉探伤时对几何形状复杂，不同材质的工件检验时，可以正确地选择磁化规范，并可检验探伤设备、磁粉或磁悬液的性能，在磁粉探伤操作中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作需要的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量，是磁粉探伤必备的调试工具。

标准磁探试片 D1型 符合JB/T4730.4-2005标准

    D1型试片用于检验磁粉探伤设备、磁粉和磁悬液的综合性能（系统灵敏度），及磁化方向、有效磁化范围和大致的有效磁场强度以及考察所采用的探伤工艺规程。

规格：15/50、7/50、30/50三种规格，适用于有曲率的探伤面，6片/套

尺寸：10×10mm,厚度50υm