深圳市宝安区华润仪器设备经营部
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ORC-UV-M10-P/S紫外线光量计
是为了管理和利用紫外线的UV照射装置光量的测量仪。因为预设了控制信号切换点输出,所以可以用来控制UV照射装置等的曝光量度
◆特征
是能控制输出紫外线曝光用信号的紫外线光量计简单的测量,小巧方便。 预设10个光量频道,光量测量,发光强度测量,计时器设定,预备时间测量等多种功能。 在光量测量中,发光强度表示和时间表示可自由转换。 可选择机器内置型UV-M10-P或者桌上型UV-M10-S。 受光器,根据灵敏度以及测试范围有UV-25,35,42可供选择。在半导体,液晶用基板的制造的工序中请选UV-SD25,UV-SD35,UV-SD42;在电子电路(印刷)基板的制造工序中请选用UV-SN25,UV-SN35,UV-SN42。 测量数据,可通过RS-232C接口连接到PC 同时还具有模拟输出。 ◆关于SD型和SN型 SN型由于承蒙从以前使用本公司制的曝光装置和照射装置等被的顾客宽广地采用的东西,确保着经过管理的继续性。 SD型在半导体和液晶用基板的制造流程的现场,已经使用的顾客,如果被重视跟那些的测量器的数据的兼容性确保的(本公司制的曝光装置在投影型曝光装置和液晶基板用周边曝光装置SD型也被采用),完全被新规章变成发光强度计等为使用的顾客推荐着其他公司制的发光强度计 ◆参考参数
是能控制输出紫外线曝光用信号的紫外线光量计简单的测量,小巧方便。
预设10个光量频道,光量测量,发光强度测量,计时器设定,预备时间测量等多种功能。
在光量测量中,发光强度表示和时间表示可自由转换。
可选择机器内置型UV-M10-P或者桌上型UV-M10-S。
受光器,根据灵敏度以及测试范围有UV-25,35,42可供选择。在半导体,液晶用基板的制造的工序中请选UV-SD25,UV-SD35,UV-SD42;在电子电路(印刷)基板的制造工序中请选用UV-SN25,UV-SN35,UV-SN42。
测量数据,可通过RS-232C接口连接到PC
同时还具有模拟输出。
◆关于SD型和SN型
SN型由于承蒙从以前使用本公司制的曝光装置和照射装置等被的顾客宽广地采用的东西,确保着经过管理的继续性。 SD型在半导体和液晶用基板的制造流程的现场,已经使用的顾客,如果被重视跟那些的测量器的数据的兼容性确保的(本公司制的曝光装置在投影型曝光装置和液晶基板用周边曝光装置SD型也被采用),完全被新规章变成发光强度计等为使用的顾客推荐着其他公司制的发光强度计
◆参考参数
受光器(交换式)
UV-SD35(UV-SN35)
测量波长领域
310~385nm
测量光量范围
0.01~999.9mJ/cm2
测量发光强度范围
开关转换
有效距离1:0.01~10.00mA/cm2
有效距离2:0.1~50.0mA/cm2
输入输出信号(D-辅助连接口)
输入(1)远程开始(2)远程停止接力切点输出(1)N. O.(以开始ON)(2)N. C.(3)警告
包含合在一起
对本公司UV标准器±2%以内
反复
±1.0%以内
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