DAS1,磁力仪数据采集系统
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产品品牌:
Bartington
产品型号:
DAS1,磁力仪数据采集系统

Bartington,DAS1,磁力仪数据采集系统

产品介绍:

    DAS1阵列磁力仪数据采集系统

  DAS1 是多功能、多探头的数据采集系统,由模拟调制器,A—D转换器和配套的PC组成。它能对多种探头采样、记录、处理和显示,功能自成一体。

典型的应用包括磁特征分析。DAS1支持巴廷顿仪器的Mag-03三轴磁场探头,Mag-03RC海洋探头以及深度、压力和声音探头,使得它对陆地和海洋的探头阵列都很适用。系统还适用于需要从大量探头中记录数据的应用,例如在地球物理方面的电磁勘探(EM)研究。

该系统安装在便携的19英寸机架式机箱,包含一个PXI-主板和PC以及A-D转换模块,还有巴廷顿仪器可编程的DECAPORT模拟接口模块。标准机架包含1个或者2个DECAPORT,但较大的机架可多容纳7个DECAPORT,能够多支持70个三轴磁场探头。

基于PC处理的DAS1为软件设计者提供了相当大的灵活性。预编译的LabVIEW®应用程序,可以快速实施该工作系统。当需要更复杂的软件时,可以通过提供的LabVIEW®扩展应用程序,或者使用替换的软件开发平台来实现。

DECAPORT 模拟接口模块

每一个DECAPORT 模拟接口模块有三十个输入通道,多可以把10个Mag-03三轴探头连接到PXI数据采集单元上。

DECAPORT主要用于支持Mag-03 (包括Mag-03RC)磁场探头。但其集成的可编程的特点使它支持更多种类的探头(例如,深度,压力,E场)。它还可通过软件配置探头的单端或差分输出,防歧变滤波,频率响应和探头供电电压。

在配套Mag-03使用时,DECAPORT可给探头供电。

主要特点 

· 可多可使用10个Mag-03系列三轴探头

· 可编程选择差分或者单端模拟探头输入

· 单端模拟输出到PXI单元

· 监控探头供电电压,电流和漏电

· 主动式磁力仪检测功能(在磁力仪上有此功能时)

· 对探头输入进行全面的ESD过流保护

· 标准的19英寸机架式安装

· 公线电压供电(100V-240V AC,IEC连接器)

· 前面板-标配Mag-03广濑式(Hirose RM15TRD10P) 输入连接器

· 后面板-68路Harting 5232 输出连接器

· 可用长达1千米的探头电缆操作(取决于探头)

兼容探头:所有巴廷顿仪器的Mag-03和Mag-03RC三轴磁场探头都可连到DECAPORT上,请联系巴廷顿仪器咨询其它种类探头的连接可能。

PXI数据采集单元

PXI数据采集单元是基于PC的,防震和模块化设计的可编程的系统,能满足典型配置的磁力仪阵列信号分析所要求的数模转换和大多数的数据处理要求。

基于主板的插拔式设计使其在系统配置方面有很强的灵活性。PXI数据采集器由单板计算机和7个A-D转换板的扩展槽组成。基座包含一个高性能的PXI背板,上面包括PCI总线和定时触发总线。

单板计算机使用2GHz处理器,在Windows XP®环境下运行,支持LabVIEW®图形数据采集和开发软件。前面板插口用于监视器,USB键盘和鼠标。

每个A-D转换板有30个输入通道,多支持10个三轴探头(通过一个DECAPORT单元)。一个全插入的主板能够处理从70个三轴探头采集的数据。数据采样率取决于应用软件,但是PXI数据采集器硬件可在18位分辨率情况下以15.6kHz的速率对所有通道采样。

  软件

DAS1提供预装的Window XP®和一套DAS1基于LabVIEW®的启动应用程序。这使得用户能快速配置DAS1以监控从连接的探头采集的信号,以及设置系统,令其正常工作。

启动软件不是设计用于支持全部磁场探头阵列工作的。还可提供更全面的LabVIEW®模块集合,用于执行基本的数据记录和分析功能。如果需要更复杂的处理,这些模块可以形成用户设计的LabVIEW®应用程序基础。由于对每个单独阵列实施要求的软件各有变化,请联系巴廷顿仪器以讨论可提供的选配软件。

电缆

每套系统都可提供用于连接探头到DECAPORT的陆地或海洋配套电缆(长可达1km,取决于探头)。提供DECAPORT与PXI数据采集单元的连接电缆,标准配置是1米。

技术规格

DAS1(完整系统)

技术规格

PXI 数据采集单元

采样速率补偿

由NI模拟到数字转换器,可以采取组合输入选项,对32通道18位分辨率时,采样速率为每秒500K样。每个通道的实际采样率由转换器的采样速率和被记录的通道数确定。采样速率的定义公式为:

S=ADC采样率/(磁力仪数目×每个磁力仪的通道数)

根据Nyquist采样准则,频率响应/带宽取决于每个通道的采样率,即,Fmax=S/2

因此,

Fmax= ADC采样率/2 ×(磁力仪数目×每个磁力仪的通道数)

过采样

过采样S0可用于增加分辨率,公式为:S0=4N ,其中N为以二进制数据的额外位表示的分辨率的增加量,S0为过采样因子。

因此,要想使分辨率达到24位,采样率要提高到4096。