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晶片表面缺陷测试仪
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产品属性
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产品型号:
SD-300i
产品介绍
:
SD-300i
用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高定向仪,实现了缺陷和定向双功能。
产品特点:
■
缺陷和定向双功能
■
配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩,确保安全使用
■
表格和曲线的形式显示,一目了然
■
速度快,重复性好
■
效率高,数据实时处理
技术参数:
■
测试时间:
1-2
分钟
■
重复性:
≤±5
″。
■
测角为
±15
″
■
小读数
1
″
典型客户
:
台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。
详情欢迎来电咨询:
北京合能阳光新能源技术有限公司
北京市通州区工业开发区光华路
16
号
电话:
-104
传真:
-608
联系人:肖经理
QQ
:
454972757
E-mail
:
公司网站:
https://www.HenergySolar.com
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