ZLDS102测量圆柱体厚度 激光位移传感器

客户要求：ZLDS102测量圆柱体厚度

测量方案：利用两个激光位移传感器探头对射，同时还有两个辅助量块，通过激光扫描可知X厚度，同时辅助量块厚度Y也知道，通过算法可知圆柱的厚度。测量示意图如下：

由于成本问题给客户

给客户推荐ZLDS10X系列激光位移传感器中的ZLDS102激光位移传感器探头

按照客户的要求给客户推荐以下型号：ZLDS102-250-65-2K-RS232-I-IN-AL-CC-3

量程是250mm,起始距离：65mm,采样频率：2K，数字输出为RS232，模拟输出为电流，线长是3m.

激光位移传感器ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。

激光位移传感器工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集，投射到CMOS阵列④上；信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。

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