产品型号：

CH-1-S型薄膜测厚仪

CH-1-S型薄膜测厚仪
一、产品简介
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、主要技术参数
    1、量    程：0-1mm　
    2、分 度 值：0.001mm
    3、上测头曲率半径：15-50mm
    4、测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
    5、测量：100μm以内＜1μm
                 100-250μm＜2μm
                 250μm＜3μm

经营：硬度计、测厚仪、显微镜、电子天平、无损检测、粗糙度仪、试验机、实验室常用设备、色差仪、地下管道检漏仪、电火花检测仪、抛光机、预磨机、镶嵌机、制样机、石油检测仪器、塑料、橡胶检测仪器、酸度计、纺织仪器、干燥箱、环境试验箱、药物检测仪器、材料性能仪器等设备。联系电话：  联系人：李宁 网址：www.xaszdz.cn